Dr. Joan Cifre Bauzà

- 971173485 (3485)
Currículum
Curriculum breu
Llicenciat en física en l’especialitat de física aplicada i electrònica (1989) i doctor en física en el programa de física i tecnologia de materials (1994) per la Universitat de Barcelona. Estàncies predoctorals en el Materials Research Laboratory, Pennsylvania State University, EUA (1992) i en el Surface Science and Catalysis Laboratory, Lawrence Berkeley Laboratory , EUA (1993). Estància postdoctoral al Laboratoire d’Optique Physique de l’Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles de Paris (1995-96).
Tècnic superior dels Serveis Cientificotècnics de la UIB des de l’any 1996, responsable de la secció de propietats físiques i metrologia, encarregat de les tècniques instrumentals: difracció de raigs X (XRD), calorimetria diferencial de rastreig (DSC), calorimetria de valoració isotèrmica (ITC), termogravimetria (TGA), anàlisis termomecàniques (TMA), anàlisis dinamomecàniques (DMA), assaigs mecànics i microscòpia de forces atòmiques (AFM).
Docència
Horari de tutories
Cal concertar cita prèvia amb el professor per a fer una tutoriaAssignatures on imparteix docència. Any acadèmic 2024-25
Docència dels 5 anys anteriors
Assignatura | Informació a l'estudi on la va impartir |
---|---|
11280 - Caracterització Estructural i Microestructural de Materials |
|